يشترى DS2172TN مع BYCHPS
شراء مع ضمان
DS2172TN
- رقم القطعة:
- DS2172TN
- الصانع:
- Maxim Integrated
- وصف:
- IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP
- حالة الرصاص الحرة / بنفايات الحالة:
- يحتوي الرصاص / بنفايات غير متوافقة
- الكمية المتوفرة:
- 16502 Pieces
- ورقة البيانات:
- 1.DS2172TN.pdf2.DS2172TN.pdf
المقدمة
BYCHIPS هو الموزع تخزين ل DS2172TN ، لدينا مخزون للشحن الفوري وتتوفر أيضا لتوريد وقت طويل. يرجى ان ترسل الينا خطة الشراء الخاصة بك DS2172TN عن طريق البريد الإلكتروني ، وسنقدم لك أفضل الأسعار وفقا للخطة الخاصة بك.
مواصفات
| الجهد - توريد: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| تجار الأجهزة حزمة: | 32-TQFP (7x7) |
| سلسلة: | - |
| السلطة (واتس): | - |
| التعبئة والتغليف: | Tube |
| حزمة / كيس: | 32-TQFP |
| درجة حرارة التشغيل: | -40°C ~ 85°C |
| عدد الدوائر: | 1 |
| تصاعد نوع: | Surface Mount |
| مستوى حساسية الرطوبة (مسل): | 3 (168 Hours) |
| الصانع الجزء رقم: | DS2172TN |
| السطح البيني: | T1 |
| يشمل: | Error Counter, Pattern Generator and Detector |
| وظيفة: | Bit Error Rate Tester (BERT) |
| وصف موسع: | Telecom IC Bit Error Rate Tester (BERT) 32-TQFP (7x7) |
| وصف: | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP |
| الحالي - توريد: | 10mA |
| Email: | [email protected] |
قطع الغيار ذات الصلة لDS2172TN
| صورة | رقم القطعة | مصنعين | وصف | رأي |
|---|---|---|---|---|
 |
DS2176QN | Maxim Integrated | IC BUFFER RECEIVE T1 IND 28-PLCC | تحقيق |
 |
DS2172T+ | Maxim Integrated | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP | تحقيق |
 |
DS2174Q+ | Maxim Integrated | IC BERT ENHANCED 44-PLCC | تحقيق |
|
DS2172T/T&R | Maxim Integrated | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP | تحقيق |
 |
DS2175 | Maxim Integrated | IC ELASTIC STORE T1/CEPT 16-DIP | تحقيق |
|
DS2172T+T&R | Maxim Integrated | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP | تحقيق |
|
DS2172TN+ | Maxim Integrated | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP | تحقيق |
 |
DS2175S/T&R | Maxim Integrated | IC ELASTIC STORE T1/CEPT 16-SOIC | تحقيق |
|
DS2175+ | Maxim Integrated | IC ELASTIC STORE T1/CEPT 16-DIP | تحقيق |
|
DS2174QN+T&R | Maxim Integrated | IC BERT ENHANCED 44-PLCC | تحقيق |
|
DS2175SN | Maxim Integrated | IC ELASTIC STORE T1/CEPT 16-SOIC | تحقيق |
|
DS2172TN+T&R | Maxim Integrated | IC BIT ERROR RATE TESTER 32TQFP | تحقيق |
|
DS2172T | Maxim Integrated | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP | تحقيق |
|
DS2175SN+T&R | Maxim Integrated | IC ELASTIC STORE T1/CEPT 16-SOIC | تحقيق |
|
DS2176Q/T&R | Maxim Integrated | IC BUFFER RECEIVE T1 28-PLCC | تحقيق |
|
DS2175SN/T&R | Maxim Integrated | IC ELASTIC STORE MEMORY 16SOIC | تحقيق |
 |
DS2176+ | Maxim Integrated | IC BUFFER RECEIVE T1 24-DIP | تحقيق |
|
DS2175N | Maxim Integrated | IC ELASTIC STORE T1/CEPT 16-DIP | تحقيق |
Latest الأخبار
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers
- Texas Instruments names Haviv Ilan senior vice president of High Performance Analog