يشترى SN74ABT8996PW مع BYCHPS
شراء مع ضمان
SN74ABT8996PW
- رقم القطعة:
- SN74ABT8996PW
- الصانع:
- وصف:
- IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24TSSOP
- حالة الرصاص الحرة / بنفايات الحالة:
- الرصاص الحرة / بنفايات المتوافقة
- الكمية المتوفرة:
- 14054 Pieces
- ورقة البيانات:
- SN74ABT8996PW.pdf
المقدمة
BYCHIPS هو الموزع تخزين ل SN74ABT8996PW ، لدينا مخزون للشحن الفوري وتتوفر أيضا لتوريد وقت طويل. يرجى ان ترسل الينا خطة الشراء الخاصة بك SN74ABT8996PW عن طريق البريد الإلكتروني ، وسنقدم لك أفضل الأسعار وفقا للخطة الخاصة بك.
مواصفات
| امدادات التيار الكهربائي: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| تجار الأجهزة حزمة: | 24-TSSOP |
| سلسلة: | 74ABT |
| التعبئة والتغليف: | Tube |
| حزمة / كيس: | 24-TSSOP (0.173", 4.40mm Width) |
| درجة حرارة التشغيل: | -40°C ~ 85°C |
| عدد القطع: | 10 |
| تصاعد نوع: | Surface Mount |
| مستوى حساسية الرطوبة (مسل): | 1 (Unlimited) |
| الصانع المهلة القياسية: | 6 Weeks |
| الصانع الجزء رقم: | SN74ABT8996PW |
| نوع المنطق: | Addressable Scan Ports |
| وصف موسع: | Addressable Scan Ports IC 24-TSSOP |
| وصف: | IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24TSSOP |
| Email: | [email protected] |
قطع الغيار ذات الصلة لSN74ABT8996PW
| صورة | رقم القطعة | مصنعين | وصف | رأي |
|---|---|---|---|---|
|
SN74ABT833DW | Texas Instruments | IC TXRX 8-9BIT NON-INV 24SOIC | تحقيق |
|
SN74ABT8996DW | Texas Instruments | IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24-SOIC | تحقيق |
|
SN74ABT8952DW | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC | تحقيق |
|
SN74ABT827NSRG4 | Texas Instruments | IC BUFF/DVR TRI-ST 10BIT 24SO | تحقيق |
|
SN74ABT8996DWR | Texas Instruments | IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24-SOIC | تحقيق |
|
SN74ABT861DW | Texas Instruments | IC TRANSCVR TRI-ST 10BIT 24SOIC | تحقيق |
|
SN74ABT8952DLR | Texas Instruments | IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP | تحقيق |
|
SN74ABT8996PWR | Texas Instruments | IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24TSSOP | تحقيق |
|
SN74ABT8646DW | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC | تحقيق |
|
SN74ABT841ADWRE4 | Texas Instruments | IC 10BIT BUS-INTFC D 3ST 24-SOIC | تحقيق |
|
SN74ABT8952DLRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP | تحقيق |
|
SN74ABT8952DWR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | تحقيق |
|
SN74ABT8952DL | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP | تحقيق |
|
SN74ABT821ADW | Texas Instruments | IC D-TYPE POS TRG SNGL 24SOIC | تحقيق |
Latest الأخبار
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers
- Texas Instruments names Haviv Ilan senior vice president of High Performance Analog